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BGA LGA

概要

BGA(Ball Grid Array)は、出力端子をはんだボールのマトリクス配列として配置する IC パッケージです。BGA の配線は主に BT 系積層基板またはポリイミド系フィルム基板上に形成され、基板全面を活用した高密度配線が可能です。

従来、リード数の増加に伴い、周辺リード型パッケージでは電気的ショートなどの問題が発生しやすくなっていましたが、BGA 技術は、パッケージ底面にバンプまたははんだボールとして端子を形成することで、これらの課題を効果的に解決します。

BGA パッケージは、高I/O数、高性能、高い放熱性および電気特性が要求される用途に適しています。

パッケージ構成

ボディサイズ(mm) 3 × 3 ~ 12 × 12(正方形/長方形)
主なサイズ:5 × 5、6 × 6、7 × 7、8 × 8、9 × 9、10 × 10、12 × 12
ボール数 26 ~ 289
ボールピッチ(mm) 0.40 ~ 0.65
標準パッケージ厚み LFBGA:最大 1.40 mm
TFBGA:最大 1.20 mm
VFBGA:最大 1.00 mm
WFBGA:最大 0.80 mm

特長

  • 3 × 3 mm ~ 12 × 12 mm までの柔軟なボディサイズ対応
  • ボールピッチ:0.40 / 0.50 / 0.65 mm
  • モールドキャップ厚み:0.45 / 0.54 / 0.70 mm 対応
  • Au ワイヤ(0.7 / 0.8 / 0.9 / 1.0 mil)および Cu ワイヤ対応
  • マルチダイおよびスタックダイ実装対応
  • グリーンパッケージ対応
  • 基板層数:2 層/4 層対応
  • JEDEC 規格準拠
  • パッケージおよび基板の社内設計能力
  • 社内一貫の組立・最終試験対応

梱包形態

JEDEC トレイ
テープ&リール

信頼性評価

耐湿レベル(MSL) JEDEC MSL 3(30°C / 60% RH / 192 時間)
温度サイクル試験(TC) -65°C ~ +150°C、500 サイクル
プレッシャークッカー試験(PCT) 121°C、100% RH、2 atm、168 時間
高温保存試験(HTS) 150°C、500 時間